YS/T 702-2009 X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量
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时间:2024-05-26 17:52:05
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基本信息
| 标准名称： | X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量 |
| 英文名称： | Determination of silicon oxide,Iron oxide,Sodium oxide content of Aluminum Hydroxide by X-ray fluorescence spectrometric method |
| 中标分类： | 冶金 >> 冶金原料与辅助材料 >> 冶金原料与辅助材料综合 |
| ICS分类： | 冶金 >> 有色金属 >> 铝和铝合金 |
| 发布部门： | 中华人民共和国工业和信息化部 |
| 发布日期： | 2009-12-04 |
| 实施日期： | 2010-06-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 全国有色金属标准化技术委员会 |
| 提出单位： | 全国有色金属标准化技术委员会 |
| 归口单位： | 全国有色金属标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 中国铝业股份有限公司广西分公司 |
| 起草人： | 秦文忠、邓文军、杨韵屏、梁愈斌、何麒麟、张爱芬、马慧侠、蒋炜、邓飞、孙洪斌 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2010-06-01 |
| 页数： | 8页 |
适用范围
本标准规定了规定了X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的分析原理、仪器设备、分析步骤及分析重复性、精密性等。
本标准适用于氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的测定。测定范围：SiO2：0.005％～0.08％，Fe2O3：0.004％～0.07％；Na2O：0.20％～0.80％。
前言
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所属分类： 冶金 冶金原料与辅助材料 冶金原料与辅助材料综合 冶金 有色金属 铝和铝合金
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